RHK-teknologi - Juli. 2008 avbilda av månaden Två-Tonad Mugg

Stora regelbundet formade öar på luft-kluven mica ytbehandlar, når de har degassing i UHV på 473 K för H som 14 antecknas i det konstant detuning funktionsläget. NC--AFMbilder som antecknas i det konstant detuning funktionsläget. Profilerar visat att nedanfört bilder är tvärsnitt som tas längs den indikerade linjer. (a) Ön av 1,7 nm-höjd med stamgäst formar. Avbilda taget på en detuning av -7,3 hertz och en bias spänning av 0 ö för V. (b) av 5 nm-höjd. De fördjupade ljusa loberna i centrera av denna strukturerar är en scanningartefact. Avbilda taget på en detuning av -4,0 hertz och en bias spänning av zoomen för -1,3 V. (c) in i strukturera som markeras av kvadrera i ram (b) som avslöjer tre terrasser. Avbilda taget på en detuning av -22,1 hertz och en bias spänning av 0 V.