RHK-teknologi - Oktober 2007 avbildar av månaden Två-Tonad Mugg

Mikroskop: Den Veeco bioscopen kontrollerar: Presentera XPMProTM beskrivning för RHK-teknologi SPM 1000: Near-fält signalerar kartor av de InGaN öarna samlades under magnetisering av två olika synliga laser-våglängder, 633 nm (Fig. B) och 532 nm (Fig. C). Spridda near-fält mätningar indikerar att den islanded som-fullvuxna InGaNen filmar kan ställa ut både inhomogeneous i sammansättning och anstränga-framkallade ändringar som påverkar det optiskt, signalera på 633 nm och 532 nm. Det Apertureless near-fält mikroskopet baseras på reklamfilmen AFM som kontrolleras av den SPM-kontrollanten 1000. Linjärt polariserad utstrålning från en HeNe laser (633 nm) eller frekvens-dubblerad Nd: Laser för YAG cw (532 nm) riktas in i en saklig lins för mikroskop och fokuseras på ta prov på en vinkel av 30° med hänsyn till ta provytan. Samlas spridd utstrålning för baksida från denta prov föreningspunkten av den samma sakliga linsen. Den optiska och topografibilder av ta prov antecknas samtidigt.